首頁 網站地圖 Englsh
站內搜尋

Patents and Intellectual Properties

  • 簡禎富、胡志翰(2017),因子分析系統及其分析方法,中華民國發明專利第I571808號。
  • 簡禎富吳吉政2016),黃光製程產能規劃系統及其規劃方法,中華民國發明專利第I529633號。
  • 張國浩、簡禎富、陳暎仁(2016),整合影像分析與資料挖礦之自動光學檢測缺陷影像分類方法,中華民國發明專利第I525317號。
  • 簡禎富、許嘉裕、陳暎仁(2016),半導體批次生產派工方法,中華民國發明專利第I523129號。
  • 簡禎富、莊世鐘(2016),動態實驗設計方法,中華民國發明專利第I519986號。
  • 簡禎富、鄭家年(2015),分級產品資源規劃系統及其方法,中華民國發明專利第I506570號。
  • 簡禎富、鄭家年、吳吉政(2015),半導體產品多目標產能規劃系統及其方法,中華民國發明專利第I502523號。
  • 簡禎富、許嘉裕、陳薇如(2015),晶圓圖之分析系統及其分析方法,中華民國發明專利第I483216號。
  • 林志偉、周宏昕、汪業傑、簡禎富、王人星、蕭之維(2008),晶片佈局之最佳化方法,中華民國發明專利第I302334號。
  • 林順利、簡禎富、鄧景豐(2006),用於半導體罩幕孔洞之邊緣補値的樣型補値法,中華民國發明專利第I251867號。
  • 簡禎富張國浩、陳志萍、林順利(2003),覆蓋誤差模式及其取樣策略程序以及使用該模式與策略程序之裝置,中華民國發明專利第190932號。
  • 郭仲仁、薛國強、簡禎富、吳吉政2003),維修決策方法與使用其之半導體元件測試系統,中華民國發明專利第           182169號。
  • 簡禎富、徐紹鐘、陳志萍(2000),提高晶圓產出之方法,中華民國發明專利第128800號。
  • Chien,Chen-Fu, Wu, J.-Z. and Zheng, J.-N. (2017), Multi-objective semiconductor product capacity planning system and method thereof, USA Invention Patent (US9563857B2).
  • Chien,Chen-Fu, Hsu, C.-Y. and Chen, Y.-J. (2016), Method of dispatching semiconductor batch production, USA Invention Patent (US9513626B2).
  • Chang, K.-H. , Chien, Chen-Fu and Chen, Y.-J. (2015), Method of defect image classification through integrating image analysis and data mining, USA Invention Patent (US9082009B2).
  • Chien, Chen-Fu and Wu, J.-Z. (2014), Photolithography capacity planning system and non-transitory computer readable media thereof, USA Invention Patent (US8863047B1).
  • Chien, Chen-Fu and Hsu, C.-Y. (2013), Method for enhancing wafer exposure effectiveness and efficiency, USA Invention Patent (US8407631B2).
  • Chien, Chen-Fu and Hu, C.-H. (2012), Factor analysis system and analysis method thereof, USA Invention Patent (US8200528B2).
  • Lin, S.-L., Chien, Chen-Fu, Hsu, C.-Y. and Wu, I.-P. (2009), Method for analyzing overlay errors, USA Invention Patent (US7586609B2).
  • Lin, C.-W., Chou, H.-H., Wang, Y.-J., Chien, Chen-Fu, Wang, J.-H. and Hsiao, C.-W. (2008), Methods for optimizing die placement, USA Invention Patent (US7353077B2).
  • Chien, Chen-Fu, Chang, K.-H., Chen, C.-P. and Lin, S.-L. (2005), Overlay error model, sampling strategy and associated equipment for implementation, USA Invention Patent (US6975974B2).
  • Chien, Chen-Fu, Hsu, S.-C. and Chen, C.-P. (2002), Procedure of alignment for optimal wafer exposure pattern, USA Invention Patent (US6368761B1).



 

Technique Transfer