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Patents and Intellectual Properties

1.           簡禎富、胡志翰(2017),因子分析系統及其分析方法,中華民國發明專利第I571808號。

2.           簡禎富吳吉政2016),黃光製程產能規劃系統及其規劃方法,中華民國發明專利第I529633號。

3.           張國浩、簡禎富、陳暎仁(2016),整合影像分析與資料挖礦之自動光學檢測缺陷影像分類方法,中華民國發明專利第I525317號。

4.           簡禎富、許嘉裕、陳暎仁(2016),半導體批次生產派工方法,中華民國發明專利第I523129號。

5.           簡禎富、莊世鐘(2016),動態實驗設計方法,中華民國發明專利第I519986號。

6.           簡禎富、鄭家年(2015),分級產品資源規劃系統及其方法,中華民國發明專利第I506570號。

7.           簡禎富、吳吉政、鄭家年(2015),半導體產品多目標產能規劃系統及其方法,中華民國發明專利第I502523號。

8.           簡禎富、許嘉裕、陳薇如(2015),晶圓圖之分析系統及其分析方法,中華民國發明專利第I483216號。

9.           林志偉、周宏昕、汪業傑、簡禎富、王人星、蕭之維(2008),晶片佈局之最佳化方法,中華民國發明專利第I302334號。

10.        林順利、簡禎富、鄧景豐(2006),用於半導體罩幕孔洞之邊緣補値的樣型補値法,中華民國發明專利第I251867號。

11.        簡禎富張國浩、陳志萍、林順利(2003),覆蓋誤差模式及其取樣策略程序以及使用該模式與策略程序之裝置,中華民國發明專利第190932號。

12.        郭仲仁、薛國強、簡禎富、吳吉政2003),維修決策方法與使用其之半導體元件測試系統,中華民國發明專利第           182169號。

13.        徐紹鐘、陳志萍、簡禎富2000),提高晶圓產出之方法,中華民國發明專利第128800號。

14.        Chien,Chen-Fu, Wu, J.-Z. and Zheng, J.-N. (2017), Multi-objective semiconductor product capacity planning system and method thereof, USA Invention Patent (US9563857B2).

15.        Chien,Chen-Fu, Hsu, C.-Y. and Chen, Y.-J. (2016), Method of dispatching semiconductor batch production, USA Invention Patent (US9513626B2).

16.        Chang, K.-H. , Chien, Chen-Fu and Chen, Y.-J. (2015), Method of defect image classification through integrating image analysis and data mining, USA Invention Patent (US9082009B2).

17.        Chien, Chen-Fu and Wu, J.-Z. (2014), Photolithography capacity planning system and non-transitory computer readable media thereof, USA Invention Patent (US8863047B1).

18.        Chien, Chen-Fu and Hsu, C.-Y. (2013), Method for enhancing wafer exposure effectiveness and efficiency, USA Invention Patent (US8407631B2).

19.        Chien, Chen-Fu and Hu, C.-H. (2012), Factor analysis system and analysis method thereof, USA Invention Patent (US8200528B2).

20.        Lin, S.-L., Chien, Chen-Fu, Hsu, C.-Y. and Wu, I.-P. (2009), Method for analyzing overlay errors, USA Invention Patent (US7586609B2).

21.        Lin, C.-W., Chou, H.-H., Wang, Y.-J., Chien, Chen-Fu, Wang, J.-H. and Hsiao, C.-W. (2008), Methods for optimizing die placement, USA Invention Patent (US7353077B2).

22.        Chien, Chen-Fu, Chang, K.-H., Chen, C.-P. and Lin, S.-L. (2005), Overlay error model, sampling strategy and associated equipment for implementation, USA Invention Patent (US6975974B2).

23.        Chien, Chen-Fu, Hsu, S.-C. and Chen, C.-P. (2002), Procedure of alignment for optimal wafer exposure pattern, USA Invention Patent (US6368761B1).

 

Technique Transfer

1.         簡禎富2003),「實驗計畫與資料挖礦以改善半導體凸塊製程良率之研究」,授權單位:清華大學;被授權單位:悠立半導體股份有限公司(Unitive Semiconductor Co., Ltd.)。(NSC 91-2622-E-007-035-CC3)

2.         簡禎富2004),「生物晶片資料挖礦方法研究與技術發展」,授權單位:清華大學;被授權單位:洹藝科技股份有限公司。

3.         簡禎富、吳吉政、許嘉裕、陳暎仁2010),「產品生命週期、多世代技術擴散模式和資料挖礦的需求估計模式產生技術」,授權單位:清華大學;被授權單位:旺宏電子股份有限公司

4.         簡禎富、許嘉裕2010),「產品生命週期、多世代技術擴散模式和資料挖礦的需求估計模式產生技術」,授權單位:清華大學;被授權單位:采鈺科技股份有限公司

5.         簡禎富、吳吉政、鄭家年2010),「太陽能電池多市場產能分配策略及營運決策」,授權單位:清華大學;被授權單位:茂迪股份有限公司。(NSC99-2221-E-007 -047 -MY3

6.         簡禎富2011),「最佳化多目標產能分配決策之求解技術」、「考量光罩特性之黃光產能規劃技術」及「瓶頸資源邊際貢獻與多因子龍捲風分析技術」,授權單位:清華大學;被授權單位:世界先進股份有限公司。

7.         簡禎富2011),「黃光機台最適整合批量與光罩派工決策之解決方案」,授權單位:清華大學;被授權單位:台灣積體電路製造股份有限公司。

8.         簡禎富2011),「最佳化KLA選取決策模式」,授權單位:清華大學;被授權單位:台灣積體電路製造股份有限公司。

9.         簡禎富2011),「晶元光電產能規劃與生產調度診斷契約書」,授權單位:清華大學;被授權單位:晶元光電股份有限公司。

10.      簡禎富2011),「建構房屋評選與購買之決策模式及其決策支援系統」,授權單位:清華大學;被授權單位:長冠不動產仲介經紀有限公司。

11.      簡禎富2012),「使用者經驗分析計畫-使用者經驗萃取消費者決策以協助3C產品設計規劃之研究」,授權單位:清華大學;被授權單位:廣達電腦股份有限公司。

12.      簡禎富2012),「最適安全存貨與可允諾之決策分析模式與求解方案」,授權單位:清華大學;被授權單位:旺宏電子股份有限公司。

13.      簡禎富2012),「晶圓圖相似度智能比對技術」,授權單位:清華大學;被授權單位:創意電子。

14.      簡禎富2012),「基因演算法改善派工與排程之技術」,授權單位:清華大學;被授權單位:台灣積體電路製造股份有限公司。

15.      簡禎富2012),「FDC資料挖礦預測模式與監控設備效能之研究」,授權單位:清華大學;被授權單位:台灣積體電路製造股份有限公司。

16.      簡禎富2013),「半導體先進製程良率診斷與故障排除技術」,授權單位:清華大學;被授權單位:台灣積體電路製造股份有限公司。

17.      簡禎富2013),「晶元光電直接人力規劃之決策模型之研究」,授權單位:清華大學;被授權單位:晶元光電股份有限公司。

18.      簡禎富2013),「生物晶片生產排程系統」,授權單位:清華大學;被授權單位:普生股份有限公司。

19.      簡禎富2013),「資料挖礦分析與良率提升之技術」,授權單位:清華大學;被授權單位:創意電子股份有限公司。

20.      簡禎富2013),「提升自動光學檢測設備使用率之研究」,授權單位:清華大學;被授權單位:采鈺科技股份有限公司

21.      簡禎富2013),「WAT自我相關參數預測模式」,授權單位:清華大學;被授權單位:台灣積體電路製造股份有限公司。

22.      簡禎富2014),「高科技產業化學品多站點生產規劃與排程及其決策支援系統」,授權單位:清華大學;被授權單位:關東鑫林科技股份有限公司

23.      簡禎富2014),「使用者經驗萃取以協助3C產品設計規劃之研究計畫()」,授權單位:清華大學;被授權單位:廣達電腦股份有限公司

24.      簡禎富2015),「Big Data Model Building For Yield Improvement」,授權單位:清華大學;被授權單位:台灣積體電路製造股份有限公司

25.      簡禎富2015),「IC設計EDA派工排程技術」,授權單位:清華大學;被授權單位:創意電子股份有限公司

26.      簡禎富2015),「IC設計EDA工作量預測技術」,授權單位:清華大學;被授權單位:創意電子股份有限公司

27.      簡禎富2015),「大數據分析與最佳化技術」,授權單位:清華大學;被授權單位:紫式大數據決策股份有限公司

28.      簡禎富2016),「Innovate collinear multi-variable modeling to support tsmc product grade enhancement for advanced technology nodes」,授權單位:清華大學;被授權單位:台灣積體電路製造股份有限公司

29.      簡禎富2016),「精密成型製程大數據分析I」,授權單位:清華大學;被授權單位:旺矽科技股份有限公司

30.      簡禎富2016),「製造業關鍵製程站點過濾診斷、製程參數大數據分析與異常機台組合偵測優化之大數據分析技術模組」,授權單位:清華大學;被授權單位:紫式大數據決策股份有限公司

31.      簡禎富2016),「虛擬量測與大數據分析提升良率之技術研發」,授權單位:清華大學;被授權單位:友達光電股份有限公司

32.      簡禎富2017),「自動化光學檢測瑕疵辨識與分類之資料挖礦技術研發」,授權單位:清華大學;被授權單位:友達光電股份有限公司

33.      簡禎富2017),「精密成型製程大數據分析II」,授權單位:清華大學;被授權單位:旺矽科技股份有限公司