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Patents and Intellectual Properties

簡禎富、許嘉裕、陳薇如(2015),晶圓圖之分析系統及其分析方法,中華民國發明專利第483216號。

Chang, K.-H., Chien, Chen-Fu, and Chen, Y.-J. (2015), Method of Defect Image Classification through Integrating Image Analysis and Data Mining, USA Invention Patent (US9082009 B2).

Chien, Chen-Fu and Wu, J.-Z. (2014). Photolithography Capacity Planning System and Non-transitory Computer Readable Media Thereof. USA Invention Patent (US8863047 B1).

Chien, Chen-Fu and Hsu, C.-Y. (2013). Method for Enhancing Wafer Exposure Effectiveness and Efficiency. USA Invention Patent (US 8407631 B2).

Chien, Chen-Fu and Hu, C.-H. (2012). Factor Analysis System and Analysis Method Thereof. USA Invention Patent (US 8200528B2).

Lin, S.-L., Chien, Chen-Fu, Hsu, C.-Y., and Wu, I.-P. (2009). Method for Analyzing Overlay Errors. USA Invention Patent (US7586609B2).

Lin, C., Chou, H., Wong, Y., Chien, Chen-Fu, Wang, J., and Hsiao, C. (2008), Methods for Optimizing Die Placement. USA Invention Patent (US73530774B2).

Chien, Chen-Fu, Chang, K.-H., Chen, C., and Lin, S. (2005), Overlay Error Model, Sampling Strategy and Associated Equipment. USA Invention Patent (US6975974B2).

郭仲仁、薛國強、簡禎富、吳吉政2001),維修決策方法與使用其之半導體元件測試系統,中華民國發明專利第182169號。

Chien, Chen-Fu, Hsu, S., and Chen, C. (2002), Procedure of Alignment for Optimal Wafer Exposure Pattern. USA patent (US6368761 B1).

徐紹鐘、陳志萍、簡禎富(2001),提高晶圓產出之方法,中華民國發明專利第128800號。

簡禎富(2003),「實驗計畫與資料挖礦以改善半導體凸塊製程良率之研究」,授權單位:清華大學;被授權單位:悠立半導體股份有限公司(Unitive Semiconductor Co., Ltd.)。(NSC 91-2622-E-007-035-CC3)

簡禎富(2004),「生物晶片資料挖礦方法研究與技術發展」,授權單位:清華大學;被授權單位:洹藝科技股份有限公司。

簡禎富、吳吉政、許嘉裕、陳暎仁2010),「產品生命週期、多世代技術擴散模式和資料挖礦的需求估計模式產生技術」,授權單位:清華大學;被授權單位:旺宏電子股份有限公司

簡禎富、許嘉裕2010),「產品生命週期、多世代技術擴散模式和資料挖礦的需求估計模式產生技術」,授權單位:清華大學;被授權單位:采鈺科技股份有限公司

簡禎富、吳吉政、鄭家年2010),「太陽能電池多市場產能分配策略及營運決策」,授權單位:清華大學;被授權單位:茂迪股份有限公司。(NSC99-2221-E-007 -047 -MY3

簡禎富(2011),「最佳化多目標產能分配決策之求解技術」、「考量光罩特性之黃光產能規劃技術」及「瓶頸資源邊際貢獻與多因子龍捲風分析技術」,授權單位:清華大學;被授權單位:世界先進股份有限公司。

簡禎富(2011),「黃光機台最適整合批量與光罩派工決策之解決方案」,授權單位:清華大學;被授權單位:台灣積體電路製造股份有限公司。

簡禎富(2011),「最佳化KLA選取決策模式」,授權單位:清華大學;被授權單位:台灣積體電路製造股份有限公司。

簡禎富(2011),「晶元光電產能規劃與生產調度診斷契約書」,授權單位:清華大學;被授權單位:晶元光電股份有限公司。

簡禎富(2011),「建構房屋評選與購買之決策模式及其決策支援系統」,授權單位:清華大學;被授權單位:長冠不動產仲介經紀有限公司。

簡禎富(2012),「使用者經驗分析計畫-使用者經驗萃取消費者決策以協助3C產品設計規劃之研究」,授權單位:清華大學;被授權單位:廣達電腦股份有限公司。

簡禎富(2012),「最適安全存貨與可允諾之決策分析模式與求解方案」,授權單位:清華大學;被授權單位:旺宏電子股份有限公司。

簡禎富(2012),「晶圓圖相似度智能比對技術」,授權單位:清華大學;被授權單位:創意電子。

簡禎富(2012),「基因演算法改善派工與排程之技術」,授權單位:清華大學;被授權單位:台灣積體電路製造股份有限公司。

簡禎富(2012),「FDC資料挖礦預測模式與監控設備效能之研究」,授權單位:清華大學;被授權單位:台灣積體電路製造股份有限公司。

簡禎富(2013),「半導體先進製程良率診斷與故障排除技術」,授權單位:清華大學;被授權單位:台灣積體電路製造股份有限公司。

簡禎富(2013),「晶元光電直接人力規劃之決策模型之研究」,授權單位:清華大學;被授權單位:晶元光電股份有限公司。

簡禎富(2013),「生物晶片生產排程系統」,授權單位:清華大學;被授權單位:普生股份有限公司。

簡禎富(2013),「資料挖礦分析與良率提升之技術」,授權單位:清華大學;被授權單位:創意電子股份有限公司。

簡禎富(2013),「提升自動光學檢測設備使用率之研究」,授權單位:清華大學;被授權單位:采鈺科技股份有限公司。

簡禎富(2013),「WAT自我相關參數預測模式」,授權單位:清華大學;被授權單位:台灣積體電路製造股份有限公司。

簡禎富(2014),「高科技產業化學品多站點生產規劃與排程及其決策支援系統」,授權單位:清華大學;被授權單位:關東鑫林科技股份有限公司。

簡禎富(2014),「使用者經驗萃取以協助3C產品設計規劃之研究計畫()」,授權單位:清華大學;被授權單位:廣達電腦股份有限公司。

簡禎富(2015),「Big Data Model Building For Yield Improvement」,授權單位:清華大學;被授權單位:台灣積體電路製造股份有限公司。

簡禎富(2015),「IC設計EDA派工排程技術」,授權單位:清華大學;被授權單位:創意電子股份有限公司。

簡禎富(2015),「IC設計EDA工作量預測技術」,授權單位:清華大學;被授權單位:創意電子股份有限公司。